REM

Als Rasterelektronenmikroskop (REM) bezeichnet man eine Mikroskopiemethode, bei der ein Elektronenstrahl über das abzubildende Objekt gerastert wird und durch Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt kommt es zur Erzeugung eines vergrößerten Bildes. Diese Bilder sind Abbildungen der Objektoberflächen und weisen eine hohe Schärfentiefe auf.

Beispiele einiger Anwendungen

Hier sind ein paar Anwendungen für REM gezeigt.

Untersuchung von STM-Spitzen auf ihre Form

Hier sind beispielhaft 3 Unterschiedliche STM-Spitzen dargestellt. Durch das REM sollte die Form und der Durchmesser der Spitze ermittelt werden, um das Beste Verfahren für die Herstellung zu ermitteln.